Surface Характеристика

Scanning электронная микроскопия (СЭМ) и энергетической дисперсии Х-Ray спектроскопии (EDS) Анализ

\\ НСМОС и \\ п \\ п \\ п \\ пeds \\ п \\ п \\ п \\ пanalyses \\ п \\ п \\ п \\ пwere \\ п \\ п \\ п \\ п made \\ п \\ п \\ п \\ п \\ не \\ п \\ п \\ п \\ п \\ на \\ п \\ п \\ п \\ пWDX600 \\ п \\ п \\ п \\ пOxford \\ пmicroscope \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п (Leica \\ п \\ п \\ п \\ пMicrosystems. Wetzlar, Germany) coupled \\ п \\ ас в МАГНИТНЫХ 440 Leica с помощью сканирующего электронного microscope(Leica Microsystems). the samples were \\ п polished\\ Перегородка Nüsing \\ п1 μm алмазной пастой, промывали водой и Этанол и сушат на воздухе. Различные \\ п \\ п \\ п \\ пsurface \\ п \\ п \\ п \\ п regionswere \\ п \\ п \\ п \\ пanalyzed \\ п \\ п \\ п \\ п \\ Перегородка Nüsing eds (Таблица\\ п2). \\ пХray фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС) Анализ XPS анализы были сделаны на спектрометре (модель XSAM HS; Кратос Аналитический ООО, Манчестер, Великобритания) в сверхвысоком вакууме (около10 8 \\ пTorr). Номераmonochromatic Мг \\ пК & alpha; (hν1253.6 \\ нэВ)\\ п \\ пradiations \\ п \\ п \\ п \\ пwere \\ п \\ п \\ п \\ п Использовано: \\ п \\ п \\ п \\ пas \\ п \\ п \\ п \\ п \\ пХray \\ п \\ п \\ п \\ пsource с \\ п \\ п \\ п \\ п5 \\ п \\ п \\ п \\ п \\ НМА \\ п \\ п \\ п \\ п emission \\ п \\ п \\ п \\ пcurrent \\ п \\ п \\ п \\ п \\ физ \\ п \\ п \\ п \\ п12 \\ п \\ п \\ п \\ п \\ НКВ \\ п \\ п \\ п \\ пvoltage. \\ п \\ п \\ п \\ пThe \\ п \\ п \\ п \\ п samples был \\ п \\ п \\ п \\ пpolished, \\ п \\ п \\ п \\ пrinsed \\ п \\ п \\ п \\ пwith \\ п \\ п \\ п \\ п \\ ндэionized water, cleaned \\ нин \\ нан ультразвуковым

bath \\ п \\ п \\ п \\ пwith \\ п \\ п \\ п \\ п-analytical \\ п \\ п \\ п \\ пgrade \\ п \\ п \\ п \\ п

for-5- minи ополаскивают =with \\ п \\ п \\ п \\ п \\ ндэionized \\ п \\ п \\ п \\ пwater. \\ п \\ п \\ п \\ п Previous \\ п \\ п \\ п \\ пto \\ п \\ п \\ п \\ пthese experiments,the образцы были погружены в искусственной слюне и 0,15 моль \\ п1NaCl раствор в течение 8 ч при Е corr, Через 8 ч состав поверхности был проанализирован, чтобы исследовать присутствие\\ Ноф cobalt (Со) и хром (Cr), в составеthe \\ пpassive пленки. В качестве ссылки связывания энергии была использована величина 284,8 эВ для пика углерода, соответствующего углеводорода адвентивных (16). Оценка включала процедуру Shirley для вычитания фона, смешанной функции гауссоваLorentzian и наименьшее square \\ пroutine \\ пfor подгонки- peak. Cytotoxicity тесты \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пcytotoxicity \\ п \\ п \\ п \\ пassay \\ п \\ п \\ п \\ пwas \\ п \\ п \\ п \\ п carried \\ п \\ п \\ п \\ п \\ ноут \\ п \\ п \\ п \\ пby \\ п \\ п \\ п \\ пexposing \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ пcell \\ п \\ п \\ п \\ п culture \\ п \\ п \\ п \\ пto \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пsolutions \\ п \\ п \\ п \\ пafter \\ п \\ п \\ п \\ п contact with alloy samples, погруженные для \\ п10days в культуральной среде MEM при 37 ° С , \\ П \\ п \\ п \\ пNCTC \\ п \\ п \\ п \\ п clone \\ п \\ п \\ п \\ п929 \\ п \\ п \\ п \\ пcell \\ п \\ п \\ п \\ пline \\ п \\ п \\ п \\ пwas \\ п \\ п \\ п \\ п acquired \\ п \\ п \\ п \\ пfrom \\ п \\ п \\ п \\ пAmerican \\ пType \\ п \\ п Culture Collection (АТСС) bank. the \\ п \\ п \\ п \\ пcytotoxicity \\ п \\ п \\ п \\ п-effect оценивали с помощью нейтрального красного поглощения (НРУ) \\ п \\ п \\ п \\ пmethodology, \\ пdescribed в предыдущих работах (17,18 ), в соответствии с theInternational организация по стандартизации (ISO) \\ п (19). results Electrochemical Результаты the corrosionpotentials \\ п (стационарныеoPen circuit potential значения) \\ пobtained \\ пfor artificialsalivaи \\ п \\ п \\ п \\ п0.15 \\ п \\ п \\ п \\ пmol.L \\ п \\ п 1 \\ п \\ п \\ пNaClsolutions were 100 ± 28 мВ \\ пSCE и 277 ± 23 -MV \\ пSCE respectively (рис. 1А). Анодный Потенциодинамические \\ пpolarization \\ пcurves \\ пwere \\ п obtained \\ пfrom \\ пcorrosion \\ пpotential \\ п \\ п \\ пи \\ п \\ п \\ п plotted \\ п \\ п \\ п \\ п \\ нин \\ п \\ п \\ п \\ пorder для оценки влияния потенциала, чтобы определить, \\ пthe \\ пpotential \\ п \\ п \\ п \\ пrange \\ п \\ п \\ п wher \\ п101; the-alloyispassivated \\ п \\ п \\ п \\ пи \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пvalue из/-the \\ п \\ п \\ п \\ пtranspassivation \\ п \\ п \\ п \\ пpotential. \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пchronoamperometric \\ п \\ п \\ п \\ п tests были сделаны для того, чтобы проверить наличие или не точечной коррозии на пассивной пленки. Полученныйresults \\ п \\ Кривые Nfrom поляризации приведены на рисунке 1 с chronoamperometric кривых при различных потенциальных значениях (рис.

1b

и \\ п 1C) for the alloy, \\ нин artificial saliva и NaCl среды, соответственно. Chronoamperometric результаты показаны на разных потенциалов и подтвердить, полученными potentiodynamic polarization anodic curves, indicating поле potential range wher \\ п101; \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пmetallic \\ п \\ п \\ п \\ пsurface \\ п \\ п \\ п \\ пis \\ п \\ п \\ п \\ пpassivated. Значения постоянной плотности тока, наблюдаемой при различных потенциальных значений являются показателем того, что \\ пalloy does нет выкрашивания corrosion. Figure 1. Потенциодинамические поляризации кривые сплава CoCrW вartificial слюны и 0,15 моль 1 хлорида натрия при 37 ° С. Панели\\ нА, В и С показывают реакцию chronoamperograms на каждом потенциале application. \\ П \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ пeis был использован для исследования пассивной \\ пfilm \\ п \\ п \\ пelectrolyte \\ пinterface \\ п and \\ пevolution с \\ пincreasing \\ пpotential. Figure 2 показывает Боде (модуль и фаза) диаграммы для CoCrW в искусственной слюне (рис. 2А) и 0,15 моль\\ п1 \\ пNaCl \\ пsolutions \\ п (рис. 2B) at \\ пЕ \\ пcorr и \\ п \\ п \\ п \\ п0.25 \\ п \\ п \\ п \\ п \\ нВ \\ пSCE \\ п \\ п. \\ п \\ п \\ п \\ п \\ нА \\ п \\ п \\ п \\ пsimilar \\ п \\ п \\ п \\ п behavior может Be seen FOR \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пalloysolution \\ п \\ п \\ п \\ пinterface \\ п \\ п \\ п \\ п \\ нин \\ п \\ п \\ п \\ п both \\ п \\ п \\ п \\ пmedia: поле \\ п \\ п \\ п \\ пimaginary \\ п \\ п \\ п \\ пи \\ п \\ п \\ п \\ пreal \\ п \\ п \\ п \\ пcomponents \\ п \\ п\\ Ноф impedance

decrease как потенциал становится более положительным, чем Е \\ пcorr \\ п.The

proposed \\ п \\ п \\ п \\ пequivalent \\ п \\ п \\ п \\ пcircuit \\ п \\ п \\ п \\ п

presented \\ п \\ п \\ нин   Figure  2C, wher101; Рcorrespond к сопротивлению электролита, СР и  \\ пк \\ п \\ Н.Ф. correspond соответственно к постоянной фазе элементу (псевдоcapacitance) и сопротивление поляризации \\ пfor \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ п oxidation \\ п \\ п \\ п \\ пreaction \\ п \\ п \\ п \\ пtrough \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пprotective \\ п \\ п \\ п \\ п-film., \\ п \\ п \\ п \\ п \\ НКПР \\ п DC \\ п \\ п \\ п \\ п и \\ п \\ пк \\ п \\ НКТ correspond, соответственно, к двойному слою constant фазового элемент и сопротивление переноса заряда CoCrW alloy-\\ пoxidation. \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ п same \\ п \\ п \\ п \\ пcircuit \\ п \\ п \\ п \\ пwas \\ п \\ п proposed- for \\ п \\ п \\ пcorrи при 0,25 V SCE\\ нина как\\ пmedia.  Figure 2. Импеданс спектры CoCrW сплав \\ п \\ физ \\ пsodium хлорид (а) и искусственная слюна. Б: Боде участки, зарегистрированные в разных потенциалов (Ecorr  и 0,25 В). (\\ П \\ п • \\ п \\ п) экспериментальные значения, (\\ п \\ п ___ \\ п \\ п) моделирование. C: Электрические эквивалентные схемы используются, чтобы соответствовать экспериментальным данным при различных потенциалах \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\. пSurface Характеристика \\ п \\ были сделаны N\\ НСМОС и EDS анализ, чтобы оценить наличие неmetallic включений. Различные области поверхности были проанализированы с использованием СЭД после полировки с 1\\ нм\\ нм алмазной пастой. На рисунке 3 приведены три \\ п differentregions, 1, 2 и 3. В соответствии с анализом EDS полеregion 1 представляет основная композиция, область 2 соответствует \\ пto\\ карбидыnniobium и область 3 обусловлена ​​наличием\\ Ноф \\ пsilicon и марганец &#-оксиды. \\ использовалиnXPS для исследования наличие Cr \\ пи \\ пCO в составе пассивной пленки. Таблица 3 showsThe абсолютных потенциалов компонентов в passivefilm. Содержание хрома на поверхности выше \\ пthan \\ пcobalt в обеих средах и выше в 0,15 моль \\ п1 \\ пNaCl \\ пwhen compared \\ п \\ п \\ п \\ пto \\ п \\ п \\ п \\ п saliva. \\ п \\ п \\ п \\ пthe \\ п \\ п \\ п \\ пresults \\ п \\ п \\ п \\ пshowed presence \\ Ноф \\ пchromium (III), и оксиды кобальта в пассивном film. Table 3. Хray фотоэлектронной спектроскопии (XPS) результаты для CoCrW alloy после того, как погружен  Figure 3. SEM и EDS изображения образцов сплава CoCrW отполированаthrough 1 мм алмазной пасты. \\ П \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п \\ п